一、測(cè)量?jī)x分類

　　1.激光測(cè)厚儀

　　激光測(cè)厚儀是才采用了激光反射原理制造而成，屬于一種非接觸式的厚度測(cè)量?jī)x器，主要用來對(duì)各種零件以及機(jī)械表面的進(jìn)行微觀測(cè)量，從而得出物件的厚度。

　　并且該種測(cè)量?jī)x能夠與電腦終端相連接，直接將物體的厚度以數(shù)字形式進(jìn)行輸出，簡(jiǎn)便快捷，適用性高，在各行業(yè)都可以看見它的身影。

　　2.X射線厚度測(cè)量?jī)x

　　該型厚度測(cè)量?jī)x的原理是利用X射線子穿過物體之后，其強(qiáng)弱程度造成變化，并通過靈敏的感應(yīng)元件和計(jì)算機(jī)對(duì)X射線的照射前后的強(qiáng)度進(jìn)行對(duì)比，也屬于一種非接觸式測(cè)量?jī)x器。該測(cè)量?jī)x器主要應(yīng)用于有色金屬板加工和冶金行業(yè)。

　　3.膜厚測(cè)量?jī)x

　　膜厚主要對(duì)各種薄膜的厚度進(jìn)行測(cè)定，測(cè)量速度快、精度高，在薄膜制造業(yè)有著很重要的應(yīng)用。除此之外，它還具有作業(yè)位置靈活、數(shù)據(jù)輸出、測(cè)量單位自動(dòng)轉(zhuǎn)換等特性，更是方便了人們的測(cè)量工作。

　　4.超聲波測(cè)量?jī)x

　　超聲波測(cè)量?jī)x采用了聲波反射原理制作而成。當(dāng)聲波抵達(dá)被測(cè)物件表面時(shí)，會(huì)被反射回來并通過測(cè)量?jī)x所接收，在測(cè)量?jī)x內(nèi)部含有微型計(jì)算機(jī)，能夠計(jì)算聲波發(fā)出及反射后的時(shí)間差，之后通過一系列的計(jì)算來得出物體的厚度。

　　二、使用時(shí)的注意事項(xiàng)

　　1.零點(diǎn)校準(zhǔn)

　　膜厚測(cè)量?jī)x在對(duì)薄膜厚度測(cè)量之前，需要進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，對(duì)于校準(zhǔn)的基體材料可以采用沒有涂層的材料進(jìn)行校驗(yàn)，這樣可以在大程度上消除物體形狀以及表面的粗糙而帶來的誤差。

　　2.基體不宜過薄

　　在基體的選擇上不能選擇厚度過薄的集體材料，因?yàn)闇y(cè)量?jī)x可能無法測(cè)量出基體的厚度而造成了厚度測(cè)量精準(zhǔn)度的下降。

　　在本文中跟大家詳細(xì)的介紹了膜厚測(cè)量?jī)x的分類以及使用時(shí)的注意事項(xiàng)，希望大家日后使用測(cè)量?jī)x設(shè)備時(shí)可以注意這幾點(diǎn)，以便高效率的使用測(cè)量?jī)x設(shè)備。